పుస్తకాల శోధన
పుస్తకాలు
మాకు మద్దతు ఇవ్వాలనుకుంటే
సైన్ ఇన్ చేయండి
సైన్ ఇన్ చేయండి
మరిన్ని ఫీచర్లను యాక్సెస్ చేయడానికి
వ్యక్తిగత సిఫార్సులు
Telegram బాట్
డౌన్లోడ్ చరిత్ర
ఇమెయిల్ లేదా Kindle కు పంపండి
పుస్తకాల జాబితాలను నిర్వహించండి
ఇష్టమైన వాటికి సేవ్ చేయండి
వ్యక్తిగతమైన
పుస్తక అభ్యర్థనలు
అన్వేషించండి
Z-సిఫార్సు చేయండి
పుస్తక సేకరణలు
అత్యంత ప్రజాదరణమైనవి
వర్గాలు
సహకారం
మాకు మద్దతు ఇవ్వాలనుకుంటే
అప్లోడ్లు
Litera Library
కాగితపు పుస్తకాలను విరాళంగా ఇవ్వండి
కాగితపు పుస్తకాలను జోడించండి
Search paper books
నా LITERA Point
కీలక పదాల శోధన
Main
కీలక పదాల శోధన
search
1
Chronologies du Proche Orient / Chronologies in the Near East, Parts i and ii: Relative Chronologies and Absolute Chronology, 16,000-4,000 B.P.. C.N.R.S. International Symposium, Lyon (France) 24-28 November 1986
BAR Publishing
Olivier Aurenche
,
Jacques Evin
,
Francis Hourst
ates
adiocarbon
periode
lab
biblio
fiabilite
ites
hich
alaf
commentaire
eriod
ulture
hase
materiau
charbon
radiocarbon
arly
alibration
evant
niv
ould
etween
ous
amples
hronology
uch
nly
ther
ottery
lso
niversity
ridu
ntre
equence
vidence
epe
rchaeological
raq
ater
eries
calibree
yosef
irst
eolithic
ien
hases
ample
auvin
hronological
dates
సంవత్సరం:
1987
భాష:
english
ఫైల్:
PDF, 447.33 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
3.0
english, 1987
2
Reliability of Electronic Components: A Practical Guide to Electronic Systems Manufacturing
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Prof.Eng. Titu I. Băjenescu M.Sc.
,
Ph.D. Marius I. Bâzu (auth.)
reliability
failure
temperature
components
failures
circuits
tests
current
voltage
devices
rate
circuit
semiconductor
device
component
stress
analysis
plastic
integrated
testing
noise
operation
transistors
silicon
electrical
defects
capacitors
diodes
technology
thermal
surface
package
degradation
proceedings
systems
chip
operating
method
oxide
mechanisms
screening
mechanical
manufacturing
accelerated
junction
aluminium
resistors
values
symp
resistance
సంవత్సరం:
1999
భాష:
english
ఫైల్:
PDF, 17.58 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
0
english, 1999
3
Dependability: Basic Concepts and Terminology: In English, French, German, Italian and Japanese
Springer-Verlag Wien
Dr. J. C. Laprie (auth.)
,
Dr. J. C. Laprie (eds.)
fault
guasto
fautes
systeme
fehler
faults
failure
faute
guasti
systems
error
funzionamento
fallimento
defaillance
dependability
testing
fonctionnement
specification
errore
erreur
leistung
ausfall
garanzia
tolerance
reliability
verification
failures
puo
fiir
maintenance
fehlerursache
computing
defaillances
possono
correct
fail
fallimenti
validation
affidabilita
surete
tolerant
recovery
specifica
terminologie
sicurezza
corretto
fehlerursachen
prevention
security
component
సంవత్సరం:
1992
భాష:
english
ఫైల్:
PDF, 13.52 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
0
english, 1992
4
Développement d’un banc de thermographie infrarouge pour l’analyse in-situ de la fiabilité des microsystèmes
Chrystelle Fillit
température
figure
thermique
mems
infrarouge
mesures
thermiques
dispositif
caméra
composants
commutateurs
fonctionnement
fiabilité
thermographie
etude
micro
résolution
microsystèmes
électrique
capacité
commutateur
défaillance
rayonnement
structures
banc
surface
matériaux
signal
mécanismes
µm
developpement
haute
l’objet
fréquence
optique
l’actionneur
tension
détecteur
flux
l’effet
configuration
baw
fabrication
actionneurs
d’actionnement
génie
infrarouges
maximale
actionnement
comportement
భాష:
french
ఫైల్:
PDF, 7.27 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
0
french
1
ఈ లింక్
ని అనుసరించండి లేదా టెలిగ్రామ్లో "@BotFather" బాట్ను కనుగొనండి
2
/ newbot ఆదేశాన్ని పంపండి
3
మీ చాట్బాట్ కోసం పేరును పేర్కొనండి
4
బాట్ కోసం వినియోగదారు పేరును ఎంచుకోండి
5
BotFather నుండి పూర్తి చివరి సందేశాన్ని కాపీ చేసి ఇక్కడ అతికించండి
×
×